Forschungsschwerpunkt: Kristalline Si-Technologie, dünne Wafer, Standardprozess bis 210 mm Kantenlänge, Prozessentwicklung Hocheffizienzzellen, Produktzuverlässigkeit, Lebensdauertest, Modulzertifizierung Kompetenzen: Analytik, Messtechnik, AVT, Zell-Design
Forschung und Entwicklung PV Solarzellen, Wafer Test- und Prüfinstitute